ANALISIS KEGAGALAN PRODUK INTEGRATED CIRCUIT (IC) DENGAN MENGGUNAKAN METODE FAILURE MODE AND EFFECT ANALYSIS (FMEA) DI PT “X” BANDUNG

dc.contributor.authorIriani, Yani
dc.date.accessioned2013-07-29T02:21:09Z
dc.date.accessioned2019-10-21T12:31:45Z
dc.date.available2013-07-29T02:21:09Z
dc.date.available2019-10-21T12:31:45Z
dc.date.issued2013-06-05
dc.description-en_US
dc.description.abstractPT “X” merupakan perusahaan perakitan (assembly) integrated circuit atau yang lebih dikenal dengan nama IC. Proses produksi yang dilakukan di PT. “X” terbagi menjadi dua area proses yang besar, yaitu Front Of Line ( FOL ) dan End Of Line ( EOL ). Hingga saat ini, pengendalian kualitas yang dilakukan oleh perusahaan masih belum maksimal, karena persentase kegagalannya masih cukup tinggi, melebihi angka persentase maksimum kegagalan yang ditetapkan oleh perusahaan adalah sebesar 2%. Dengan demikian, perlu dilakukan evaluasi terhadap proses produksi yang berlangsung. Tujuan penelitian ini adalah untuk menganalisis faktor kegagalan produk integrated circuit di PT. “X” yang diawali dengan identifikasi permasalahan kegagalan produk pada proses perakitan integrated circuit, kemudian dianalisis dengan metode failure mode and effect analysis (FMEA). Metode ini akan menentukan dan mengalikan tingkat keparahan, kejadian, dan deteksi, sehingga diperoleh Risk Priority Number (RPN). Moda kegagalan dengan RPN terbesar merupakan prioritas dalam dilakukannya tindakan korektif. Kegagalan produk jenis Incomple Mold merupakan moda kegagalan dengan RPN terbesar yang terjadi pada PT “X”. Moda kegagalan ini terjadi pada proses molding. Berdasarkan hasil analisis kegagalan produk, diperoleh bahwa kegagalan produk IC yang terjadi diakibatkan oleh beberapa faktor, yaitu keausan suku cadang mesin, kurangnya kesadaran operator dalam menjalankan prosedur kerja sesuai dengan spesifikasi yang ada, kesalahan teknisi dalam set up mesin dan deteksi kegagalan yang telah dilakukan kurang optimal.en_US
dc.description.sponsorship-en_US
dc.identifier.issn1907-0470
dc.identifier.urihttp://repository.widyatama.ac.id/handle/123456789/2123
dc.language.isootheren_US
dc.publisherTI ITENAS dan ITB
dc.relation.ispartofseriesKIN.CD.063;
dc.subjectintegrated circuiten_US
dc.subjectkegagalan produken_US
dc.subjectFMEAen_US
dc.titleANALISIS KEGAGALAN PRODUK INTEGRATED CIRCUIT (IC) DENGAN MENGGUNAKAN METODE FAILURE MODE AND EFFECT ANALYSIS (FMEA) DI PT “X” BANDUNGen_US
dc.typePresentationen_US
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
KIN.CD.063.pdf
Size:
474.15 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Main article
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Plain Text
Description: